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上海研潤光機科技有限公司
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MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀 MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀 MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀簡介

MARSURF XC 20 MIT PCV 200 輪廓測量站
輪廓測量的國際基準
MarSurf XC 20 被公認為輪廓評估的產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過技術發展為優質質量的輪廓測量系統。微調的設備配置可提供出色的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
可以顯示用戶提示
交互控制元素支持評估和自動例行程序
使用雙探針測頭測量上下輪廓;也可對兩個輪廓進行相對評估
剖面圖像,可評估各剖面的不同參數
可對孔或陡峭對象等障礙進行分段測量
支持導入和導出 dxf 文件以對比設定點/實際值
PCV 200 驅動裝置采用專利的測桿安裝方式,無需工具即可完成可重復性測桿更換
專利測頭系統,提高測量站靈活性
手動可變掃描力,同樣提高靈活性
使用直線和圓弧合成標稱輪廓
方便比較標稱和實際輪廓 可通過輪廓內的描述選擇不同的公差
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀技術參數:

接觸速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
測桿長度
175 mm, 350 mm
測量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑
25 μm
掃描長度末尾(X 方向)
200 mm
分辨率
Z 方向,相對探針針頭:0.38 μm(350 mm 測桿)/ 0.19 μm(175 mm 測桿)
在 Z 方向,相對于測量系統:0.04 μm
掃描長度開始(X 方向)
0.2 mm
取樣角
在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至 88°,前緣高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
導塊偏差
< 1 μm(200 mm 以上)
測量范圍 mm
(Z 方向)50 mm
掃描長度(文本)
0.2 mm 至 200 mm
測量力 (N)
1 mN 至 120 mN,以下和以上(可在 MarSurf XC 20 中設置)

MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀應用:
機器建造:軸承、螺紋、螺紋柱、滾珠絲杠、軸、支架、閥門
生產領域最需要的測量:部分自動流程中的輪廓測量
汽車業:轉向、剎車系統、變速箱、曲軸、凸輪軸、氣缸蓋
醫療:髖關節和膝關節內用假體的輪廓測量,醫用螺絲的輪廓測量,種植牙的輪廓測量
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀附件:
可選:
MarSurf ST 750 測量立柱
手動控制面板帶操縱桿和顯示器 MCP 21
平行虎鉗,V 形塊
設備工作臺
軟件選項:
螺紋評定選項
斜面選項
QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
拓撲選項
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀版本:
結合精密驅動和測頭系統 LD 130 / 260
結合測量立柱 ST 500 或 ST 750
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀貨運:
MarSurf XC 20 包含計算機、MidRange Standard 包括 XC 20 軟件和 Mahr 許可密鑰
TFT 顯示器
MarSurf PCV 200 驅動單元
MarSurf ST 500 測量立柱包含支架
校準套件
MCP 23 手動控制面板
CT 300 XY 工作臺

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